レーダーレベル測定に影響を与える干渉タイプの分析

レーダーレベル測定電磁波を利用して機能します。レーダー レベル センサーの動作原理には、電磁波を放射して特定の液体レベルを測定することが含まれます。これらの波は、媒体によって反射された後、正確な測定データを提供します。ただし、産業環境では、レーダー干渉源の要因がパフォーマンスに影響を与える可能性があります。外部干渉、内部干渉、DC 干渉、AC 干渉の 4 つの側面からレーダー干渉源を調査できます。

外部干渉には、天体干渉（太陽や星からの電磁波など）、機械的干渉（外部振動による機器コンポーネントの変位）、湿度干渉（高湿度により抵抗と測定精度が低下する）、化学的干渉（腐食性ガスの影響）が含まれます。機器上の影響）、熱干渉（周囲温度を変える機器によって発生する熱）、光干渉（半導体コンポーネントの導電性に影響を与える光）です。

内部干渉は主に、電源トランスと内部電子部品間の相互作用から発生します。ノイズ干渉を見逃してはいけません。モダンなレーダーレベル測定は、高周波マイクロ波技術の応用により、干渉防止機能を効果的に強化しました。

追加の熱電位、化学電位、または DC 電源との接触により、測定回路で DC 干渉が発生します。これらはすべて、測定回路の通常の動作を妨害する可能性があります。レーダーレベル測定.

AC 干渉は、主に電磁誘導、高温漏れ、および接地電流によって発生する、線間干渉と接地干渉に分類できます。

これらの干渉源を理解し、レーダー レベル ゲージの設置および使用中に適切な干渉対策を講じることで、レーダー レベル ゲージの最適なパフォーマンスが保証されます。